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VIEW MicroLine 300桌上型半自动CD测量系统
主要技术参数：◆测量范围(XYZ)：标准：200×200×25mm；可选：300x300x25◆视场内测量精度：10nm(100X 镜头)；Z轴聚焦范围
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2021-06-02 |
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VIEW Benchmark300 影像测量仪
XYZ测量行程：300x300x150 mm/ 300x300x200 mm承载力：30 kg光学镜头：单放大倍率，固定倍率固定镜头光学与工厂可配置
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2021-06-02 |
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Summit 450/600/800影像仪
Summit450/600/800 参数介绍：XY 精度: E2=(2.0+4L/1000)um(E2=(1.5+5L/1000)um 高分辨率刻度尺)Z 线性精度: E1=(1.8+5L/1000)um
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2021-06-02 |
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VIEW BenchMark 250
BenchMark 250 主要技术参数XY 精度:E2=(1.8+6L/1000)微米(E2=(1.0+6L/1000)微米 需高分辨率光栅尺)Z精度:E1=(2.0+5L/1000)微米(
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2021-06-01 |
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VIEW BenchMark 450影像测量仪
BenchMark 450 主要技术参数XY 精度:E2=(2.5+5L/1000)微米 Z 精度:E1=(2.0+8L/1000)微米 （ 带TTL激光和可选5倍镜头）英制单位公
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2021-06-01 |
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Pinnacle+Plus影像测量仪
特征：X,Y,Z 行程 (毫米)：250 x 150 x 50X,Y,Z光栅尺分辨率：XY - 0.05μm,零膨胀材料，Z - 0.01μm,零膨胀材料平台驱动系统：
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2021-06-01 |
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VIEW Benchmark 624影像测量仪
VIEW Benchmark 624是QVI旗下一款大容量式全自动三轴尺寸测量系统.VIEW Benchmark 624的移动桥式结构和光学可使被测组件始终保持
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2021-06-01 |
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VIEW Benchmark XLT影像测量仪
先进的图像处理功能，确保高速，高精度和高稳健性能强大的计量软件和数据分析工具可供选择高精度光学系统.X,Y,Z行程(mm)900 x 15
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2021-06-01 |
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